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介電溫譜、頻譜測試系統用于研究材料（如塊體、薄膜等）的介電性能（介電常數、損耗因子等）隨溫度（溫譜）和頻率（頻譜）的變化規律。
OLED變溫光電測試系統是一套研究OLED器件在不同溫度下電致發光性能的設備，主要包括冷熱臺、源表、硅光電二極管、光譜儀以及上位機控制軟件等。
電介質充放電測試系統核心優勢在于能夠模擬真實放電場景，并支持變溫條件下的欠阻尼和過阻尼充放電測試，是當前儲能材料研究領域的關鍵科研設備。
原位超高溫顯微分析系統一體化高度集成：高度集成IH1700、顯微鏡、CCD、真空系統，消除設備獨立操作的繁瑣性。
原位冷熱顯微分析系統適配生物醫藥（如藥物結晶觀察）、食品科學（如成分相變分析）、地質學（如包裹體高溫行為研究）等多學科前沿研究領域，為不同領域的材料變溫行為研究提供強大且通用的原位分析工具。
超高溫電阻率測試系統采用四探針測試法，可用于導電橡膠、導電塑料等材料在不同溫度下的電阻特性研究。系統組成包括：超高溫探針熱臺、四探針方阻測試儀、專用測試軟件等。
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